介電常數測試儀  型號：MHY-28966

MHY-28966系列 介電常數測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

MHY-28966系列作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內對緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

MHY-28966系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數通過公式計算得到。

1 點：                            
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值度和重復性。

◎ 介電常數測量范圍可達1～105

2 主要標：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測量度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

作頻率范圍

100Hz～100kHz（6個頻點）

度：±0.05%

20Hz～1MHz

數字合成，度：±0.02%

電容測量范圍

0.0001pF～99999μF

四位數顯

0.00001pF～9.99999F

六位數顯

電容測量基本誤差

±0.05%

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.0001～9.9999

四位數顯

0.00001～9.99999

六位數顯

2.3 HAD-Y916B 介電常數測試裝置（含保護電）

2.3.1 平板電容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合

加溫控溫裝置(選購設備)可以成zui200℃控溫度l℃加熱測試

HAD-Y918 介電常數測試裝置提供四種不同直徑測試電，能對直徑φ10～56mm，

厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設置為接觸電法，薄膜電法和

非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 zui耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長度設置：1m

2.4.4 zui使用頻率：30MHz

2.5 頻介質樣品（選購件）：
 在現行頻介質材料檢定系統中，檢定為頻介質損耗測量儀

提供的測量標準是頻標準介質樣品。該樣品由人藍寶石，石英玻璃，

氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。

用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

2.6 MHY-28966系列 配置

配置類型

普及型

標準型

型

電橋作頻率范圍

100Hz～100kHz

度：±0.02%

50Hz～1MHz

度：±0.02%

50Hz～1MHz

度：±0.02%

配置型號

WY2817數字電橋

+WY916B測試裝置

WY2818A頻阻抗分析儀

+WY916B三電測試裝置

WY2818A頻阻抗分析儀

+WY918測試裝置

（能適宜各種樣品）

介電常數范圍

1-10000

度：±5%

1-10000

度：±2%

1-10000

度：±2%

損耗因素D值范圍

0.0001～9.9999

四位數顯

0.00001～9.99999

六位數顯

0.00001～9.99999

六位數顯